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• 熱膨脹系數測定儀使用方法

  熱膨脹系數測定儀主要用于測量材料的熱膨脹系數，以下是一般的使用方法：1. 樣品準備：準備需要測量的材料樣品。樣品可以是固體、液體或懸浮物。2. 儀器設置：根據測量要求，設置儀器的參數，如溫度范圍、升降速率等。確保儀器處于正常工作狀態(tài)。3. 樣品安裝：將樣品放置在儀器的測量部位，確保樣品與測量裝置接觸良好。4. 初始調整：將儀器加熱并等待一段時(shí)間，使樣品溫度穩定在測量范圍內。調整儀器，使其達到穩定的

  2023-08-16 Vink 130

• 導熱系數測定儀校準規范

  導熱系數測定儀校準規范主要包括以下幾個(gè)方面：1. 設備要求：導熱系數測定儀應符合相關(guān)標準或規范的要求，并具備必要的安全保護措施。儀器應具有穩定的加熱源和溫度控制系統，以及靈敏準確的溫度和質(zhì)量傳感器。2. 校準標準：選擇合適的校準標準物質(zhì)，這些物質(zhì)的導熱系數值應有可追溯性，通常是由權威機構或實(shí)驗室提供的認證標準。3. 校準方法：采用標準的校準方法進(jìn)行校準，通常包括以下步驟： - 熱平衡校準：確保

  2023-08-15 Vink 134

• 熱天平工作原理

  熱天平是一種常用的熱學(xué)分析儀器，用于測量物質(zhì)在升溫或降溫過(guò)程中的質(zhì)量變化。其工作原理如下：1. 導熱機制：熱天平通過(guò)一個(gè)穩定的加熱源（通常是電爐）提供熱能。加熱源將熱傳遞給稱(chēng)量容器（通常是一個(gè)采用特殊材料制成的蓋子），并通過(guò)導熱材料迅速傳遞給待測物質(zhì)。2. 質(zhì)量變化測量：當待測樣品吸收熱能時(shí)，其溫度升高并發(fā)生質(zhì)量的變化。熱天平通過(guò)質(zhì)量傳感器（如電子天平）測量這個(gè)質(zhì)量變化。3. 溫度控制：為了保持待

  2023-08-14 Vink 171

• 示差掃描量熱計檢定規程

  示差掃描量熱計是一種常用的熱物性測試儀器，用于測量物質(zhì)在升溫或降溫過(guò)程中的熱學(xué)性質(zhì)變化。為確保示差掃描量熱計的準確性和可靠性，需要進(jìn)行定期的檢定。以下是一般的示差掃描量熱計檢定規程：1. 器件準備：確定需要檢定的示差掃描量熱計型號和規格，并準備相關(guān)的檢定設備和標準物質(zhì)。2. 初步檢查：檢查示差掃描量熱計的外觀(guān)、電源電壓、儀器接線(xiàn)以及操作控制系統等，確保儀器正常運行。3. 環(huán)境條件：確保檢定環(huán)境符合

  2023-08-11 Vink 180

• 頂空分析儀使用方法

  頂空分析儀的使用方法一般包括以下步驟：1. 準備樣品：根據需要進(jìn)行樣品準備。樣品可以是液態(tài)樣品或溶解在溶劑中的樣品。確保樣品瓶密封良好，避免氣體泄露。2. 設置實(shí)驗條件：根據分析需求，設置儀器的實(shí)驗條件，如溫度、稀釋氣體、平衡時(shí)間等。這些參數的設定通常取決于樣品的性質(zhì)和分析的目的。3. 進(jìn)行頂空進(jìn)樣：將樣品瓶插入頂空分析儀的進(jìn)樣口，并將樣品瓶與儀器連接。確保樣品瓶的密封良好。4. 開(kāi)始頂空分析：?jiǎn)?

  2023-08-10 Vink 114

• 差熱分析儀測什么

  差熱分析儀（Differential Thermal Analyzer，DTA）是一種常用的熱物性分析儀器，它用于測量物質(zhì)在升溫或降溫過(guò)程中的熱學(xué)性質(zhì)變化。差熱分析儀主要測量以下兩個(gè)方面的信息：1. 熱容量變化：差熱分析儀可以測量物質(zhì)在升溫或降溫過(guò)程中的熱容量變化。通過(guò)控制樣品和參比體系（通常是一個(gè)惰性物質(zhì)）的溫度，測量?jì)烧咧g的溫差。當樣品發(fā)生熱性質(zhì)變化，例如相變、化學(xué)反應等時(shí)，樣品的熱容量會(huì )發(fā)

  2023-08-09 Vink 108

• 圖像分析儀的作用

  圖像分析儀是一種用于對圖像進(jìn)行處理和分析的儀器或軟件工具。它可以幫助用戶(hù)提取、量化以及解釋圖像中的各種信息和特征。圖像分析儀常用于醫學(xué)影像分析、生物學(xué)研究、材料科學(xué)、計算機視覺(jué)等領(lǐng)域。圖像分析儀的工作流程通常包括以下步驟：1. 圖像獲?。和ㄟ^(guò)數字相機、掃描儀等設備獲取待分析的圖像。2. 預處理：對圖像進(jìn)行去噪、增強、濾波等預處理操作，以消除噪聲、改善圖像質(zhì)量。3. 特征提?。和ㄟ^(guò)圖像分析算法，提取

  2023-08-08 Vink 108

• 掃描探針顯微鏡的原理

  掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscopy，SPM）是一種高分辨率的顯微技術(shù)，可以用來(lái)觀(guān)察材料表面的原子、分子以及納米級的結構。下面是掃描探針顯微鏡的原理：1. 探測器和控制系統：掃描探針顯微鏡使用的探針（如原子力顯微鏡、掃描電子顯微鏡）隨機掃描樣品表面，并測量樣品表面的物理性質(zhì)，如電勢、電磁力等。通過(guò)控制系統記錄和控制探測器的掃描軌跡和測量參數。2. 原理基礎：掃描探針顯

  2023-08-07 Vink 110